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雙軸向智慧型測徑儀

超高精度外徑量測系統

xactum
XLS(eXactum Laser Scan Micrometer)系列雷射測徑儀
創新功能特性在雷射掃描測微法是最新技術革新研發
的代表產品。
內建量測軟體及高效能程式電子晶片
XLS雷射測徑儀可單獨使用,
是智慧型外徑檢測測徑儀。

經和擁有全部專屬編輯程式軟體及操作面板之顯示器連接,
專屬雷射量測及控制系統,即可確實對於多種不同工件產品作 on-line 檢測。
XLS雷射測徑儀可以經由標準乙太網路、RS232或RS484等傳輸介面,
直接和PC、PLC或NC連線使用。
任何電子設備裝置皆可搭配前述之介面,即可輕易快速取得被測物精準直徑量測數據;
使用者可以在自己特定程式中輸入量測方式數據,執行任何特定量測工作。

雙軸向雷射測徑儀型式:

table_gauge meclab

XLS13XY
量測範圍:4x4mm或13x13mm
可量測直徑:0.03~10mm
重複性精度:可達 ± 0.03 µm

XLS35XY
量測範圍:35x35mm
可量測直徑:0.2~32mm
重複性精度:可達 ± 0.15 µm
 

詳細規格說明請點選下面圖片開啟 Xls.xy_tw 雷射量測系統型錄
目錄


量測類型

只有一個被測物在量測區域,
可透明體或不透明體 量測尺寸:
X軸向和Y軸向直徑值和X–Y中心位置度。

注意:其他量測類型可能需要搭配專用軟體。

Blistbuster軟體可偵測一再出現表面瑕疵

此XY雷射測徑儀軟體包含Blistbuster功能特性,
除了能夠非常有效地檢驗連續產出線材之圓滑直徑外
(例如:磁性線材),並且能夠偵測出非常特殊樣式
且一再出現之瑕疵,一般稱為“Blisters”(砂眼、氣泡)。
如用在檢測切割太陽能矽晶的鑽石線(diamond wire used for solar wafer cutting),即能檢測出線材上概略顆粒數及百分比。

優點與益處


優越功能特性